ULVAC爱发科 热分析评价系统 激光热膨胀计 LIX-2L
ULVAC爱发科 热分析评价系统 激光热膨胀计 LIX-2LULVAC爱发科 热分析评价系统 激光热膨胀计 LIX-2L最小分辨率2nm的超精密热膨胀测定。可以测量低热膨胀材料和各种电子部件的精密膨胀。同时，也可以对应薄膜的厚度方向的膨胀测量。特点可以测量50至500μm厚的聚合物膜材料的厚度方向专利和标准JISR3251-1995标准平移式样品架（专利）用途有机薄膜的厚度膨胀测量低膨
- 型号： LIX-2L
ULVAC爱发科 热分析评价系统 激光热膨胀计 LIX-2L
ULVAC爱发科 热分析评价系统 激光热膨胀计 LIX-2L
最小分辨率2nm的超精密热膨胀测定。
可以测量低热膨胀材料和各种电子部件的精密膨胀。同时，也可以对应薄膜的厚度方向的膨胀测量。
可以测量低热膨胀材料和各种电子部件的精密膨胀。同时，也可以对应薄膜的厚度方向的膨胀测量。
特点
可以测量50至500μm厚的聚合物膜材料的厚度方向
专利和标准
JISR3251-1995标准
平移式样品架（专利）
用途
有机薄膜的厚度膨胀测量
低膨胀玻璃的高精度膨胀测量
封装材料的膨胀测量
规格
| Model | LIX-2M | LIX-2L |
|---|---|---|
| Temperature range | RT ～ 700℃ | －150 ～ 200℃ |
| Sample size | Φ5 ～ 6 × L10 ～ 15 (mm) Both sides in the length direction are finished spherically. | |
| Atmosphere | 1. Vacuum 2. Low pressure high purity helium gas | |
| Measurement method | Dual path Michelson laser interferometry | |