TO-5DP DC型薄膜用 用于薄膜检查针孔探测器
TO-5DPDC型薄膜用用于薄膜检查特殊长度一种低功率直流高压检测器,用于检测数百微米或更小的相对薄薄膜中的针孔,例如氟树脂。对电子设备、精密设备等绝缘薄膜的针孔检测、缺陷检查有效。规格方法直流高压放电型检测电压0.3-5kV报警方式灯、蜂鸣器工作温度0-40°C(无冷凝)探头(标准附件)ABS伸缩探头(手柄φ32,头部φ25,长度约540-870 mm),带刷架,绳索(5 m用于高压)标准配件探
- 型号: TO-5DP
TO-5DPDC型薄膜用用于薄膜检查特殊长度一种低功率直流高压检测器,用于检测数百微米或更小的相对薄薄膜中的针孔,例如氟树脂。对电子设备、精密设备等绝缘薄膜的针孔检测、缺陷检查有效。规格方法直流高压放电型检测电压0.3-5kV报警方式灯、蜂鸣器工作温度0-40°C(无冷凝)探头(标准附件)ABS伸缩探头(手柄φ32,头部φ25,长度约540-870 mm),带刷架,绳索(5 m用于高压)标准配件探
一种低功率直流高压检测器,用于检测数百微米或更小的相对薄薄膜中的针孔,例如氟树脂。
对电子设备、精密设备等绝缘薄膜的针孔检测、缺陷检查有效。
用于薄膜检查