膜厚计 薄膜测厚仪 L-500
产品概要内置打印机的高端型号薄膜测厚仪块/组统计计算器新开发的探头(另售)主要规格测量方法电磁感应或涡流测量对象磁性金属上的非磁性涂层或非磁性金属上的绝缘涂层测量范围*因探头而异电磁型 (EP-100):0 至 2,500 μm 或 99.0 mils涡流型 (HP-100):0 至 1,200 μm 或 47.0 mils测量精度*取决于探头电磁型(EP-100):小于 15 μm:±0.3 μ
- 型号:
产品概要内置打印机的高端型号薄膜测厚仪块/组统计计算器新开发的探头(另售)主要规格测量方法电磁感应或涡流测量对象磁性金属上的非磁性涂层或非磁性金属上的绝缘涂层测量范围*因探头而异电磁型 (EP-100):0 至 2,500 μm 或 99.0 mils涡流型 (HP-100):0 至 1,200 μm 或 47.0 mils测量精度*取决于探头电磁型(EP-100):小于 15 μm:±0.3 μ
内置打印机的高端型号薄膜测厚仪
块/组统计计算器
新开发的探头(另售)
主要规格
测量方法 电磁感应或涡流 测量对象 磁性金属上的非磁性涂层或非磁性金属上的绝缘涂层 测量范围 *因探头而异
电磁型 (EP-100):0 至 2,500 μm 或 99.0 mils
涡流型 (HP-100):0 至 1,200 μm 或 47.0 mils测量精度 *取决于探头
电磁型(EP-100):小于 15 μm:±0.3 μm、15 μm 或更大 1,000 μm:±2%、1,000 μm 或更大:±3%
涡流型(HP-100): 50μm以下:±1.0μm、50μm以上:±2%解决 100μm以下:0.1μm、100μm以上:1μm 符合标准 电磁感应型:JIS K5600-1-7, JIS H0401, JIS H8401, JIS H8501, / ISO 2808, ISO 2064, ISO 1460, ISO 2178, ISO 19840 / ASTM B 499, ASTM D 7091, ASTM E 376 涡流
型: JIS K5600-1-7, JIS H8680-2, JIS H8501 / ISO 2808, ISO 2360, ISO 2064, ISO 19840 / ASTM B244, ASTM D7091, ASTM E376统计功能 测量次数、平均值、标准差、最大值、最小值、分块、组 探测 一点接触恒压型(EP-100、HP-100) 显示方式 数字式(LCD,最小显示位数0.1μm) 外部输出 USB串口 电源 AC100-240V 或电池 1.5V(AA 碱性)x 8(主机 x 4,打印机 x 4) 尺寸/质量 126(W)×256(D)×93(H)mm, 750g 配件 铁基(EP-100用)、铝基(HP-100用)、标准板(10μm、50μm、100μm、500μm、1000μm、1500μm、近似值、各1片)、电池1.5V (AA碱性)AC适配器、电源线、探头适配器、背带、打印纸、表面保护膜、标准板盒、便携包、简易调整指南、使用说明书 选项 标准板(附件以外的厚度)、膜厚测量台LW-990、校准(校准证书、校准证书、溯源系统图)