日本NEWLY新土山边界扫描测试仪 (BST)
可以对AOI或ICT无法保证安装质量的BGA/CSP的故障点进行检查和诊断。无需夹具即可从原型阶段轻松检查，检测LSI的引脚/网络级的缺陷点。不支持BST的外围设备也可以通过BST设备进行测试。边界扫描测试仪，可在引脚级识别 BGA/CSP 板上的缺陷位置概念无需夹具即可从原型阶段轻松检查可以对处理器进行 JTAG 在线仿真，从而实现从开发到制造的无缝使用。功能●能够在测试前提前计算测试覆盖率（D
- 型号： 边界扫描测试仪 (BST)
可以对AOI或ICT无法保证安装质量的BGA/CSP的故障点进行检查和诊断。无需夹具即可从原型阶段轻松检查，检测LSI的引脚/网络级的缺陷点。不支持BST的外围设备也可以通过BST设备进行测试。
边界扫描测试仪，可在引脚级识别 BGA/CSP 板上的缺陷位置
概念
无需夹具即可从原型阶段轻松检查
可以对处理器进行 JTAG 在线仿真，从而实现从开发到制造的无缝使用。
功能
●能够在测试前提前计算测试覆盖率（DFT）
●不仅可以指定缺陷的位置，还可以指定缺陷的内容（ADO）
●可用于 FPGA、CPLD 和闪存的在系统编程
●即使不支持 BST 的 BST 外围设备也可以通过 BST 设备进行测试。