SM-Pen 电磁模拟膜厚仪 用笔式探头可以测量小零件（定制）
SM-Pen电磁模拟膜厚仪用笔式探头可以测量小零件（定制）特殊长度笔型探头，前端装有极细的磁极。现在可以测量小零件和狭窄空间。规格测量范围0 至 300 μm 0 至 5 mm（第 2 行刻度）测量精度均匀表面上的 ± 2 μm 或指示值的 ± 5%电源AAA 电池 (1.5V) x 6工作温度0-40℃（不结露）飞机尺寸105 (W) x 48 (H) x 165 (D) 毫米重量500克配件标
- 型号： SM-Pen
SM-Pen
电磁模拟膜厚仪
特殊长度
笔型探头，前端装有极细的磁极。
现在可以测量小零件和狭窄空间。
规格
测量范围
0 至 300 μm 0 至 5 mm（第 2 行刻度）
测量精度
均匀表面上的 ± 2 μm 或指示值的 ± 5%
电源
AAA 电池 (1.5V) x 6
工作温度
0-40℃（不结露）
飞机尺寸
105 (W) x 48 (H) x 165 (D) 毫米
重量
500克
配件
标准木板、表盘盖、储物箱
探测
笔型φ11×130mm，CVD磁极：φ2.6×4.5mm
用笔式探头可以测量小零件（定制）