SL-200E 电磁模拟式膜厚仪
SL-200E电磁模拟式膜厚仪高性能小型2极型：可以测量小地方和内部（定制）特殊长度该探头体积小，适用于测量局部涂层的厚度，如平面和弯曲到圆棒、零件、复杂形状和内部。规格测量范围I：0 至 50 μm II：0 至 500 μm测量精度均匀表面上的 ± 1 μm 或指示值的 ± 2%电源DC：AA 电池 (1.5V) x 8AC：100V，50 / 60Hz（使用 AC 适配器）工作温度0-40℃
- 型号： SL-200E
SL-200E
电磁模拟式膜厚仪
特殊长度
该探头体积小，适用于测量局部涂层的厚度，如平面和弯曲到圆棒、零件、复杂形状和内部。
规格
测量范围
I：0 至 50 μm II：0 至 500 μm
测量精度
均匀表面上的 ± 1 μm 或指示值的 ± 2%
电源
DC：AA 电池 (1.5V) x 8
AC：100V，50 / 60Hz（使用 AC 适配器）
AC：100V，50 / 60Hz（使用 AC 适配器）
工作温度
0-40℃（不结露）
飞机尺寸
190 (W) x 90 (H) x 120 (D) 毫米
重量
1.8公斤
配件
标准板、交流适配器、肩包
探测
2极型、磁极直径φ2.5、极间距离5mm
尺寸：10（W）×17（H）×21（D）mm
尺寸：10（W）×17（H）×21（D）mm
高性能小型2极型：可以测量小地方和内部（定制）