LUCEO鲁机欧应变测试仪LSM-7000BZ
零件号检查方法定量测量测量范围（纳米）可测量/可观察范围(mm)标本放置空间高度（mm）用法特征正交尼科尔法圆极化法敏感颜色塞纳蒙法LSM-7000LE○○○0 到 270*最大：176 x 132最小：6.9 x 5.225 至 240・玻璃制品的畸变检查 ・塑料制品的畸变检查 ・晶体的畸变检查・光学薄膜的相位差测定、不均的确认・适合中小型产品的检查・分析仪手动旋转，编码器自动读取角度・减少操作
- 型号： LSM-7000BZ
| 零件号 | 检查方法 | 定量 测量 | 测量范围 （纳米） | 可测量/可观察 范围 (mm) | 标本放置 空间 高度（mm） | 用法 | 特征 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 正交 尼科尔法 | 圆极化 法 | 敏感 颜色 | 塞纳蒙法 | |||||||
| LSM-7000LE | ○ | ○ | ○ | 0 到 270 * | 最大：176 x 132 最小：6.9 x 5.2 | 25 至 240 | ・玻璃制品的畸变检查 ・ 塑料制品的畸变检查 ・ 晶体的畸变检查 ・光学薄膜的相位差测定、不均的确认 | ・适合中小型产品的检查 ・分析仪手动旋转，编码器自动读取角度 ・减少操作员测量误差・ 通过输入光弹性常数和光程长度自动计算应力 ・测量数据和应变观察图像数据可以保存 | ||
| LSM-7000B | ○ | ○ | ○ | 0 到 270 * | 最大：150 x 112 最小：6.9 x 5.2 | 25 至 240 | ・玻璃制品的畸变检查 ・ 塑料制品的畸变检查 ・ 晶体的畸变检查 ・光学薄膜的相位差测定、不均的确认 | ・中小型，适用于深色产品的检测 ・分析仪手动旋转，编码器自动读取角度 ・测量仪减少测量误差・ 通过输入光弹性常数和光程长度自动计算和测量应力 数据和失真可保存观察图像数据 /具有亮度调节机制 | ||
| LSM-7000BZ | ○ | ○ | ○ | 0 到 270 * | 最大：13.0 x 9.8 最小：2.0 x 1.5 | 25 至 240 | ・玻璃制品的畸变检查 ・ 塑料制品的畸变检查 ・ 晶体的畸变检查 ・光学薄膜的相位差测定、不均的确认 | ・适用于超小型产品的检测 ・分析仪手动旋转，编码器自动读取角度 ・测量仪减少测量误差・ 通过输入光弹性常数和光程长度自动计算应力 ・测量数据和应变观察图像数据可以保存 ・配备亮度调节机构 ・配备高倍率变焦镜头 | ||