LUCEO鲁机欧应变测试仪 LSM-9100WS
零件号检查方法定量测量测量范围（纳米）可测量/可观察范围(mm)标本放置空间高度（mm）用法特征LSM-9100WNIR近红外三波长线偏振法○100 至 5,000（参考）φ1000 到 160・着色树脂制品的应变分布评价・树脂薄膜的拉伸不均检查・任何人都可以通过单击轻松测量。・可以在几分钟内评估尺寸为 Φ100mm 的表面分布。・可以保存评估数据和变形观察图像数据。・可以评估着色树脂产品的残余应
- 型号： LSM-9100WS
| 零件号 | 检查方法 | 定量 测量 | 测量范围 （纳米） | 可测量/可观察 范围 (mm) | 标本放置 空间 高度（mm） | 用法 | 特征 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| LSM-9100WNIR | 近红外三波长线偏振法 | ○ | 100 至 5,000（参考） | φ100 | 0 到 160 | ・着色树脂制品的应变分布评价 ・树脂薄膜的拉伸不均检查 | ・任何人都可以通过单击轻松测量。 ・可以在几分钟内评估尺寸为 Φ100mm 的表面分布。 ・可以保存评估数据和变形观察图像数据。 ・可以评估着色树脂产品的残余应力。 | |||
| LSM-9001LE | 旋转分析仪法 | ○ | 0 到 130 | 200×200 | 0 到 160 | ・玻璃制品的变形检查・ 塑料制品的变形检查・ 晶体材料的应力检查 ・光学薄膜的相位差测量 | ・任何人都可以通过单击轻松测量 ・二维测量型应变测试仪 ・可保存测量数据和应变观察图像数据 ・延迟测量范围：0 至 130 nm | |||
| LSM-9001S | 旋转分析仪法 | ○ | 0 到 130 | 最大：60×60 最小：10×10 | 0 到 115 | ・玻璃制品的变形检查・ 塑料制品的变形检查・ 晶体材料的应力检查 ・光学薄膜的相位差测量 | ・任何人都可以通过单击轻松测量。 ・二维测量型畸变测试仪。 ・可以保存测量数据和畸变观察图像数据。 ・延迟测量范围：0 至 130 nm 。・安装了 6 倍光学变焦镜头。 | |||
| LSM-9100W | RGB线偏振法 | ○ | 0 到 3,000 | φ150 | 0 到 160 | ・玻璃制品的变形检查・ 塑料制品的变形检查・ 晶体材料的应力检查 ・光学薄膜的相位差测量 | ・任何人都可以通过单击轻松测量。 ・二维测量应变测试仪。 ・可以保存测量数据和应变观察图像数据。 ・延迟测量范围：0 至 3,000 nm 。可测量 | |||
| LSM-9100WS | RGB线偏振法 | ○ | 0 到 3,000 | 最大：60×60 最小：10×10 | 0 到 115 | ・玻璃制品的变形检查・ 塑料制品的变形检查・ 晶体材料的应力检查 ・光学薄膜的相位差测量 | ・任何人都可以通过单击轻松测量 ・二维测量型应变测试仪 ・可保存测量数据和应变观察图像数据 ・延迟测量范围：0 至 3000 nm ・测量塑料等较大应变配备 6 倍光学变焦 镜片 | |||