STEM 的 CL/PL 测量系统 为Monch STEM（扫描透射电子显微镜）
添加了 CL 和 PL 测量功能。近红外光检测也是可能的！

产品概要

该产品是在扫描透射电子显微镜（STEM）的基础上增加了扩展光聚焦和光照射功能的系统。在聚光模式下，电子束成为照射源，实现CL测量。在光照射模式下，激光激发后获取电子图像。还可以同时进行光照射和光收集，从而进行PL测量。
僧侣山（Monch/Mönch）是瑞士的一座山，属于阿尔卑斯山。在德语中是“僧侣”的意思。Attolight 在其产品名称中使用山脉名称。

特征

• 通过优化反射镜的曲率半径和位置实现超高灵敏度

• 使用 InGaAs 相机进行近红外波长检测

• 检测波长：200 nm～1.7 um

目的

• GaN、InP 和 SiC 的评估

• 太阳能电池（GaAs、CdTe、钙钛矿等）

• 引领

• 2D材料（石墨烯、BN、WS2、金刚石等）

系统配置

测量数据示例

(a) h-BN/WS2/h-BN 异质结构显示出三种发射线：激子 (XA)、三重子 (X-) 和局域发射极 (L)。(b) c 和 d 中突出显示的区域的 CL
光谱
。 ) 在 d 中测量的 HAADF 区域和 (d) 显示局部 trion 增强的 X 强度图。
（Bonnet 等人，avarXiv：2102.06140 (2021)）。

GaN/AlN NW 的光谱图像（20 个 QDisk）

(a) GaN/AlN 纳米线的 HAADF 图像，比例尺为 20 nm。
(b) 与 CL 同时采集的纳米线的 HAADF。
(c) 最强烈峰的波长位置。
(d) 最强烈峰的强度顶峰。