喜提大单！淄博浩海新材料科技购买SANKO 山高三高Coatmaster Flex 非接触式薄膜测厚仪

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膜厚计的用途

膜厚计是测量涂敷在产品表面的油漆、电镀等涂层厚度（膜厚）的装置。

涂漆主要是为了保护基材和美观，但如果涂层厚度不合适，基材可能会生锈、出现裂纹。

因此，在涂装过程中，使用膜厚仪检查涂层是否涂敷到适当的厚度非常重要。

膜厚计的类型

非接触式

光热辐射膜厚仪

在光热发射法（ATO）中，含有红外成分的光脉冲（可见光/氙气闪光）由于激发现象而用热量（产生红外）照射样品涂层（表面）。红外传感器捕获当时产生的辐射热。

由于频率根据涂层的固有物理性质而不同，因此通过测量从照射到辐射的时间(Δt)并进行算术处理来导出膜厚度值(μm)。
涂层越薄，从照射到辐射的时间越短，涂层越厚，时间越长。

一般情况下，涂层的表面非常不规则，固化前的粉末涂料表面更粗糙。该粗糙度特性受到预处理、基材类型和粗糙度以及涂层类型等多种因素的影响。

用接触式膜厚计测量时，表面高度不同，因此增加测量点，取平均值来测量膜厚。

FTS 产品包括Coatmaster FLEX ，一种光热辐射薄膜测厚仪。

反射光谱薄膜测厚仪

当光照射到基板上具有薄膜的样本时，光分为在薄膜表面反射的光和在薄膜内部折射并在基板表面反射的光。

该反射光重叠并干涉，并且根据光的相位关系，亮度被增加，或者被抵消并变暗。

来自光源的光从保偏光纤发出，并再次接收从测试对象表面反射的光。

通过用分光计分析该光的干涉（波长），将其转换成膜厚值并进行测量。

荧光X射线胶片测厚仪

当某种物质受到X射线照射时，会发射出该物质所含元素特定波长的二次X射线。这些发射的波长称为荧光 X 射线。

由于从材料发射的荧光X射线的量取决于材料中所含元素的量，因此荧光X射线的量根据施加到基材上的涂层的厚度而变化。

通过与已测定膜厚的样品进行比较，可以准确地测定膜的厚度。

红外膜厚仪

膜厚是基于对测定对象物照射红外线并使透射光(或反射光)分散而得到的光谱来测定的。

当涂层受到红外光照射时，根据涂层的材质和厚度，它会吸收特定波长的红外线。
根据涂层所用材料的“吸收率与膜厚的关系”，可以计算出测量对象的膜厚。

在需要实时测量结果的场合，通常采用3波长法来减少与膜厚测量不直接相关的因素（光源波动、测量目标的颜色浊度等）的影响。 ）。

触点类型

电磁感应膜厚计

电磁涂层测厚仪（电磁感应式）通过初级线圈中产生的磁通量在次级线圈中感应期间的电流变化来测量涂层厚度。

基材必须是铁等磁性材料，涂层必须是树脂或铝等非磁性材料。

将探头（测量端子）与被测量物接触，由于磁铁“拉力”的强度而导致磁通密度发生变化，根据电流量的变化来测量膜厚流经电磁铁。

当次级线圈接收到磁通量时，如果范围内有磁性材料（铁等磁性材料），磁通量分布就会发生变化，因此，通过测量感应电流的变化，可以测量出到磁性材料的距离（=薄膜厚度）。

如果涂层很薄，流过探针尖端磁铁的电流会更高，因为探针和基材之间的距离更近。
如果涂层越厚，探头与基材之间的距离越大，流过电磁体的电流量的变化越小。

• 基材：铁、钢、铁素体不锈钢等磁性材料

• 涂层：电镀、油漆、树脂膜等非磁性材料

涡流膜厚计

涡流测厚仪（涡流式）利用了初级线圈的磁通量在导体内部产生的涡电流量根据导体与初级线圈之间的距离而变化的事实。

基材必须是非磁性材料，例如铝，薄膜必须是不导电的绝缘薄膜。

当初级线圈产生的磁通到达导体时，导体内部就会产生涡流（感应电流）。
当该涡流产生的磁通通过次级线圈时，在次级线圈中产生电动势，涡流产生的磁通在次级线圈中产生的电动势也根据与被检测对象的距离而变化。导体。
因此，可以通过测量电动势来测量到导体的距离（膜厚）。

• 基材：铝、铜等非磁性金属

• 涂层：塑料、树脂、橡胶等绝缘薄膜。

超声波膜厚仪

使用超声波脉冲回波对非金属材料（木材、混凝土、塑料等）上的涂层厚度进行无损测量。

将耦合剂（例如凝胶）涂在材料上，超声波脉冲穿过涂层并从不同密度的层的边界反射。

通过分析从涂层和基材之间（层间）界面反射的超声波传播时间的差异来测量膜厚。
边界的厚度差异会改变脉冲反射回来所需的时间，因此即使对于多层涂层，也可以测量每层的厚度。

电磁涂层测厚仪与涡流涂层测厚仪的比较

*如果基材是木材、混凝土、塑料或玻璃，则无法测量。

可在电磁感应式和涡流式之间切换的膜厚计

涂层测厚仪K5-C可根据用途从电磁感应式和涡流式两种探头中选择。

还有一个FNF探头，可以自动检测基材并在电磁感应和涡流之间切换。