喜提大单！ MCP-T370 低阻抗率计MCP-T370型(手提式) 厂牌：日东精工分析科技

特色：

维持安定之高品质，依据世界唯一之四探针理论之高精度之阻抗率计。操作简单，现场使用携带型方便，用于生产技术、品质管理

测定范围：

10 ^-2～10 ⁶ Ω

资料输出：

USB Memory

尺寸：

约228 ^L × 85 ^W × 65 ^H mm, 420g

ASP探头MCP-TP03P (RMH110)《四探针探头》

利用价值广泛标准探头JIS K7194对应，
Pin间5mm，Pin尖0.37R×4支，压力210g/支，

MCP-TA06 充电器

ESP探头MCP-TP08P (RMH114)《四探针探头》

不均一样品用
Pin间5mm，Pin尖Ø 2×4支，压力240g/支，

PSP探头MCP-TP06P (RMH112)《四探针探头》

小样品或薄膜用
Pin间1.5mm，Pin尖0.26R×4支，压力70g/支，

BSP探头MCP-TP05P (RMH111)《四探针探头, 特殊用探头》

大样品用
Pin间2.5mm，Pin尖0.37R×4支，压力210g/支

LSP探头MCP-TPLSP (RMH116)《四探针探头, 特殊用探头》

Soft surface samples用(RMH116)
Pin间5.0mm，Pin尖2mm×4支，压力130g/支

AP2探头MCP-TPAP2 (RMH333)《二探针探头》

BP探头MCP-TPBP (RMH118)《二探针探头》

大样品用
Pin尖Ø 2×2支，压力240g/支

ASP探头MCP-TP03P(RMH110)《四探针探头》

利用价值广泛标准探头JIS K7194对应，
Pin间 5mm，Pin尖0.37R×4支，压力210g/支，

QP2探头MCP-TPQP2(RMH119)《四探针探头》

微小样品用
Pin间1.5mm，Pin尖0.26R×4支，压力70g/支，

TFP探头MCP-TFP(RMJ217)《四探针探头, 特殊用探头》

Thin films on Si wafer用 
Pin间1.0mm，Pin尖0.15R×4支，压力50g/支

NSCP探头MCP-NSCP(RMJ202)《四探针探头, 特殊用探头》

Silicone wafer用 
Pin间1.0mm，Pin尖0.04R×4支，压力250g/支

MCP-TRF1(RMH304)探头检验片

ASP, ESP,LSP探头用(探头检验片于测定前检查之)

MCP-TRPS (RMH311)探头检验片

PSP探头用(探头检验片于测定前检查之)

MCP-TRT2 (RMH335)探头检验片

AP2,BP探头用(探头检验片于测定前检查之)

MCP-TRTF (RMH312) 探头检验片

TFP, NSCP探头用(探头检验片于测定前检查之)

MCP-TRQP2 (RMH313) 探头检验片

QP2探头用(探头检验片于测定前检查之)