| 商品规格 |
| 商品名称： | 高阻抗率计MCP-HT800型(桌上型)
Hiresta-UX |
| 特色： | 高精度之高阻抗领域的表面阻抗率
体积阻抗率系统化
符合ASTM-D257, JIS-K6911 |
| 适用对象： | 静电材料、地板材料、纸、包装材料、油漆、纤维、混凝土、陶瓷、塑胶、软片、涂装、薄膜...等 |
| 显示器： | 640*480, 7.5吋彩色可触控液晶萤幕 |
| 测定范围： | 10 3～10 14 Ω |
| 测定精度： | ±2% |
| 储存数据： | USB memory |
| 尺寸： | 约330 W × 270 D × 113 H mm, 2.4KG |
PS.此仪器/最高可释放出1000V之电压，
使用时请务必使用"绝缘橡胶手套"，小心操作！以免触电！ |
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 标准配备 |
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|  URS探头MCP-HTP14 (RMH214)
《专用MCP探头, 环状探头》广泛的使用价值之环状探头标准样式 |
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| MCP-TRURS探头检验片(RMH327) URS探头用(探头检验片于测定前检查之) |
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 选购品 |
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| UR探头MCP-HTP12 (RMH212)
《专用MCP探头, 环状探头》较大一点之样品用 |
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| UR-SS探头MCP-HTP15 (RMH215)
《专用MCP探头, 环状探头》微小样品用 |
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| UR-100探头MCP-HTP16 (RMH216)
《专用MCP探头, 环状探头》10 16 Ω/sq为上测定用 |
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| UA探头MCP-HTP11 (RMH211)
《专用MCP探头, 2Pin探针探头》细长样品用
Pin间20.0mm，Pin尖Ø×4支，弹压240g/支 |
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| MCP-TRUR 探头检验片(RMH326) UR探头用(探头检验片于测定前检查之) |
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| MCP-TRURSS 探头检验片(RMH328) UR-SS探头用(探头检验片于测定前检查之) |
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| MCP-TRUR100 探头检验片(RMH321) UR-100探头用(探头检验片于测定前检查之) |
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| MCP-TRUA 探头检验片(RMH325) UA探头用(探头检验片于测定前检查之) |
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| MCP-JB04 (RMJ351)"J box X type" For measurement according to JIS K 6911 |
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| MCP-URSJG (RMJ360) "Prode Fixer for URS probe" |
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| MCP-ST03 绝缘板UFL (RMJ354) ps之测定时用Teflon面；ρν之测定时用金属面
尺寸300 W ×200 L ×10 H mm |
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| MCP-FS02 脚踏开关(RMJ802) 开关盒X type用之标准配备 |
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阻抗量测设备；阻抗计；阻抗率计；高阻计；低阻计；高阻抗计；低阻抗计；高阻抗率计；低阻抗率计；Resistivity meter；抵抗率计；阻抗分析仪；表面阻抗计；桌上型低阻抗率计；手持式阻抗率计；四点探针；半导体系列；
高精确阻抗率计检测法
前言
科技快速进步，电子半导体的开发及应用，往往会应产品的需求而相对提高成品组合间的品质，如:阻抗、阻抗率。目前在半导体业间常需要此阻抗、阻抗率的数据来了解其相互之间问题。由于以传统的方式来测量需要耗费人力、物力及大量时间去套入公式以求得结果，造成检测中一大困扰，因此，日东精工分析科技便研发了更方便的测量仪器来解决，不用再计算繁琐的公式了。符合了国际间的ISO 1853、ISO 2878、ASTM D991、JIS K 7194、JIS R 1637。
1-1 概念(测定原理)
Resistance阻抗：阻抗被用于不同状态和物质性质，是做阻抗是随物质形状、大小、测定位置不同而变化。
Resistivity阻抗率：阻抗率乃为阻抗（Ω）乘以阻抗率校正因数（RCF）而来，通常，它要经过一番努力烦琐的计算出校正因数后，才能换算得知。而日东精工微电脑阻抗率计能于短时间内轻易的精确处理出物质阻抗率。
阻抗：测值会随条件变化的。
阻抗率：是对绝对值，对每个物质来说它只有一个测值。
例：测量黄金时
Resistance（Ω）
2.4× 10-8 Ω big< 2.4× 10-6 Ω bigger< 2.4× 10-2 Ω
Resistivity（Ωcm）
2.4× 10-6 Ωcm changeNo.＝ 2.4× 10-6 Ωcm changeNo.＝ 2.4× 10-6 Ωcm
“Ω”or“Ωcm”- which will you use for evaluating materials?
“Resistivity” is a simple index for classifying all the materials in the world.
1-2 阻抗（Resistance）和阻抗率计（Resistivity）之间的关系
～关键在阻抗率校正因数（RCF） ～
♦ Resistance阻抗（R），阻抗=电阻
当一个电流（I）流穿一物质，其电的阻抗乃缘由入口与出口间有一电位差（V）造成，故以公式表此关系即欧姆定律(Ohm's law)。
阻抗R（Ω）=V[V]/I[A]
♦ Volume Resistivity体积阻抗率（ρν），阻抗率=电阻系数
表示物质每单位体积之阻抗。
“体积阻抗率”也叫做”特殊阻抗Specific Resistance”或”阻抗率”
“体积阻抗率”是大部分利用于物质方面之用词；
“特殊阻抗”是共通于电学方之用词；
“阻抗率”常被用在物理学方面之用词。
体积阻抗率ρν [Ωcm] ＝R [Ω] × RCF× t
此单位“Ωcm”读为“厘米欧姆”每一物质为有一单一特性值为体积阻抗率。
※Condductivity电导率（σ）
电导率是体积阻抗率的相反，它又被叫“电的电导率”或“电导系数”。
电导率σ [ /cm ]＝1/ρν，此单位是“S/cm”读做每厘米西门子。
♦ Surface Resistivity表面阻抗率（ρs）
表示物质每单位表之阻抗。
“表面阻抗率”也叫做“单张阻抗”其单位为“Ω”。然而为了要和阻抗（Resistance）区分，所以被写为“Ω/□”或“Ω/sq”读为“每欧姆平方”。
表面阻抗率因材质厚度不同而变化，所以通常被利用于涂装或薄膜方面，相反的，它可被利用于厚度的判断指标。
表面阻抗率ρ[ Ω/sq ] ＝ R[ Ω ] × RCF ＝ ρν× 1/t
♦ Resistivity Correction Factor阻抗率校正因数（RCF）
通常以金属电极（4针探头）固定于样品表面以测得阻抗。
阻抗乘以阻抗率因素而计算出体积阻抗率及表面阻抗率。 阻抗因数是依电极之形号、尺寸、内针距离或样品之形状、尺寸，测定位置而被确定求出。
利用Poisson's方程式可精确的求出于电磁学的确定电位。
1-3 阻抗率之计算[传统方法]
～阻抗率是物质之绝对值～
Resistance R（Ω）= V[V]/I[A]
Volume Resistivity ρ[Ωcm]＝R [Ω] ×W/1× t
Surface Resistivity ρs [Ω/sq]＝R [Ω] ×W/1＝ ρν×1/t
